実装評価ビークル

ダミーダイ・
デイジーチェーン試験チップ

実装開発で製品の代わりになるシリコン試験ダイ:お客様のピッチのパッドアレイ、相手基板を通して閉じるデイジーチェーン、選択いただけるUBMとバンプ、全チェーンを読み出せるプローブパッド。識別付きでサイズにダイシングし、ウェーハ1枚から納品します。

パターン付きテストウェーハ →

お客様のパッドピッチデイジーチェーン・ケルビンUBM・バンプ選択ベアまたはバンプ付きサイズにダイシング1枚から
40 µm
バンプピッチ
標準的な下限
カスタム
ダイサイズ
レイアウト・ダイシング検討のうえ
4〜8インチ
ウェーハ
形態
1枚
最低
発注数量
製作対象

デバイスではなく接合を評価する試験ダイ

デイジーチェーン構造により、実装後の複数接合部を含む回路の導通と合成抵抗を評価できます。チェーンを区間分けすることで断線したチェーン区間を絞り込み、独立した電流印加端子と電圧検出端子を設けた専用ケルビン構造により、選択した接合部を評価できます。当社はダイを製作し、実装・試験は別途お見積り、またはお客様側での実施となります。

試験ダイ(フリップ)バンプ · ダイ側リンク基板側リンク基板上のチェーン端子

模式断面図。ダイ側と基板側のリンクが交互に接合部を結び、始点・終点端子で合成抵抗を測定します。ケルビン測定は別途の電流・電圧端子を要します。

01

ダミーダイ

パッド、パッシベーション、任意のバンプを備えた製品ダイの寸法・厚さを模擬したダミーダイ。実デバイスなしでのピックアンドプレース、アンダーフィル、熱評価向け。

02

デイジーチェーンダイ

相手基板を通して閉じるダイ側のリンク配線と、アクセス可能な始点・終点端子。区間分けにより断線したチェーン区間を絞り込みます。接合部単位のデータが必要な箇所には、電流印加と電圧検出を分離した4端子ケルビン構造を設計します。

03

バンプ・UBMオプション

ベアパッド、UBMのみ、SnAgキャップ付きCuピラー、SnAg、Au、AuSnバンプ。めっき後またはリフロー後。CuピラーUBM参照。

04

相手基板

対になるチェーンを持つインターポーザまたは基板クーポン。組み合わせてループを閉じます。インターポーザ参照。

概要

ダミーダイ・ デイジーチェーン試験チップ

対応範囲と仕様の選択肢です。各値は案件ごとに見積書で確定します。

40 µm
バンプピッチ 標準的な下限
カスタム
ダイサイズ(レイアウト・ダイシング検討のうえ)
4〜8インチ
ウェーハ 形態
1枚
最低 発注数量
お客様のパッドピッチ
デイジーチェーン・ケルビン
UBM・バンプ選択
ベアまたはバンプ付き
サイズにダイシング
1枚から
仕様

対応範囲の目安

項目目安・条件備考
ダイサイズカスタム。約1×1 mmからレチクルフィールドまで。ステッチング対応時はそれ以上レイアウト確認後に確定。ダイシングストリート幅は、ご使用の装置または当社で手配する加工条件に合わせて設定します
パッド・バンプピッチCuピラーは確認済み形状で40 µmから。はんだバンプは約80 µmから。Au、AuSn、インジウムはそれぞれ固有の下限ピッチはバンプ方式とレイアウトごとに確認
パッド金属ポリイミドまたはSiNパッシベーション付きAlまたはCuパッド開口サイズはピッチによる
チェーン配置区間分けチェーン、コーナー・エッジチェーン、ケルビン構造プローブパッドはダイ端または基板上
バンプベアパッド、UBMのみ、SnAgキャップ付きCuピラー、SnAg・AuSn・インジウムバンプ、Auバンプ納品状態は材料による:はんだ系はめっき後またはリフロー後、Auとインジウムは成膜・めっき後。高さと径はピッチによる
厚さ標準厚または100〜200 µmに薄化必要に応じキャリア上で薄化
識別ダイIDマークとウェーハマップロットごとのトレーサビリティ
検査取り決めにより光学検査、バンプ高さ、コプラナリティ実装後のチェーン抵抗は別工程
プログラムの進め方

ピッチからダイシング済みダイまで

工程の流れ
01ダイの定義02レイアウト03製作04検査05ダイシングと納品
  1. 01ダイの定義サイズ、ピッチ、チェーンマップ、バンプ種別、相手部品。
  2. 02レイアウトパッドアレイとチェーン配線。確認・承認用のGDSデータをご提出します。
  3. 03製作選択したオプションに応じた金属、パッシベーション、UBM、バンプ。
  4. 04検査取り決めた光学検査とバンプ計測、ウェーハマップ。
  5. 05ダイシングと納品トレイまたはテープ上に識別付きでサイズにダイシング。
送っていただきたい情報

試験ダイのお見積りのために

項目あると助かる情報
ダイサイズ、厚さ、数量
アレイピッチ、バンプ数、チェーンのネットリストと区間、ケルビン測定が必要な接合部、観察面とフリップチップの鏡像規約、実装後のテストパッドアクセス
バンプ種別、高さ、めっき後またはリフロー後
相手部品対になる基板が必要か、既にお持ちか
日程希望納期と実装プログラムの段階
よくあるご質問

発注前に確認されることの多い質問

デイジーチェーン試験ダイの見積りに必要な情報は?

ダイサイズと厚さ、パッド/バンプピッチ、バンプ数、チェーン区間とケルビン位置、バンプ種別と納品状態、相手基板の要否、数量と納期。

実装とチェーンの試験も行いますか?

当社はダイを製作します。実装と実装後の電気試験は別工程で、ご要望に応じて見積もるか、社内で実施いただけます。

バンプなしで納品できますか?

はい。ベアパッド、UBMのみ、またはバンプ付き(SnAgキャップ付きCuピラー、SnAg、Au、AuSn、インジウム)。めっき後またはリフロー後。

関連サービス

パターン付きテストウェーハ:この案件と組み合わせることが多い工程です。

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